日本oji-keisoku光軸測(cè)量裝置配向角位相差 PAM-PR300 特點(diǎn)介紹

對(duì)光學(xué)薄膜偏振軸方位、取向角及相位差值進(jìn)行測(cè)定

無需個(gè)人差異，可簡(jiǎn)便且短時(shí)間內(nèi)測(cè)量

■特點(diǎn)

測(cè)定方式

旋轉(zhuǎn)偏光鏡方式

平行尼科耳旋轉(zhuǎn)方式

交叉尼科耳旋轉(zhuǎn)方式

測(cè)定波長(zhǎng)

590nm

選項(xiàng)：450nm、550nm、630nm

樣品尺寸

□ 30～250mm

厚度20mm以下

測(cè)定面積

33mm2（5.8mm見方：感光體面）

測(cè)定項(xiàng)目

偏光 軸向方位、方位角、相位差

日本oji-keisoku光軸測(cè)量裝置配向角位相差 PAM-PR300 規(guī)格參數(shù)

測(cè)定項(xiàng)目

偏光軸方位、配向角、位相差

測(cè)定対象

光學(xué)薄膜、偏振板

測(cè)定原理

旋轉(zhuǎn)檢光子法、平行二卷旋轉(zhuǎn)法、正交二卷旋轉(zhuǎn)方法

測(cè)定時(shí)間

約4秒（偏振軸測(cè)量）

測(cè)定波長(zhǎng)

590nm（可選=450nm、630nm等）

樣品尺寸

30mm~250mm，t=20mm以下

系統(tǒng)配置

測(cè)定裝置主體、光源裝置、筆記本電腦（Windows10）

主體尺寸

W380XH390 XD610 mm

本體重量

27kg

偏振軸方位測(cè)定相位差測(cè)定方式旋轉(zhuǎn)檢光子法平行尼可旋轉(zhuǎn)法測(cè)定項(xiàng)目吸收軸方位或透過軸方位相位差值、取向角構(gòu)成角度分辨率0.001°0.0 01°角度精度（3σ）0.006°0.017°相位差分辨率N/A 0.01nm相位差精度（3σ）N/A 0.03nm光（LED）固定試樣臺(tái)檢光子A