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日本ceramic forum半導體分析裝置測量結晶 HERA FT1230 DLTS方法是一款高感度測量結晶缺陷導致的電子狀態(tài)的良好方法。 即便是內在微小的雜質或格子缺陷也會很大程度上影響半導體材料性能，所以此類測量非常重要。

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日本oji-keisoku便攜式橢圓偏振儀測量裝置 PAM-PTB100 本裝置是測量通過平板等偏振板射出的光的偏振狀態(tài)的裝置。一次測量6波長的橢圓率（a/b）和橢圓方位角（Ψ）。測量部和控制器分離，可在任意狀態(tài)下進行測量。

日本oji-keisoku超高相位差雙折射測量裝置 PAM-UHR100 本裝置以透明試樣為對象，通過平行尼可光譜法測定數千至2萬nm左右的相位差及取向角。通過輸入薄膜厚度，自動計算雙折射N。

日本oji-keisoku光軸測量裝置配向角位相差 PAM-PR300 對光學薄膜偏振軸方位、取向角及相位差值進行測定 無需個人差異，可簡便且短時間內測量

日本oji-keisoku相位差測量平行尼科耳旋轉 KOBRA-WFD0系列 1.從超低相位差（2nm以下）到超高相位差（20000nm以下）的廣泛測量范圍2.高精度的測量特別是取向角的高精度化，實現長期穩(wěn)定的測量3.日常維護，減少消耗部件標準采用LED光源，無需更換光源燈4.與KOBRA-W系列共用樣品支架、可選夾具可共用5.考慮操作性與KOBRA-W系列相比較大的開口部

日本oji-keisoku相位差/橢球偏振測量裝置 KOBRA-HB系列 1.從超低相位差（2nm以下）到超高相位差（20000nm以下）的廣泛測量范圍2.高精度的測量特別是取向角的高精度化，實現長期穩(wěn)定的測量3.日常維護，減少消耗部件標準采用LED光源，無需更換光源燈4.與KOBRA-W系列共用樣品支架、可選夾具可共用5.考慮操作性與KOBRA-W系列相比較大的開口部